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Issue Date	Title
2015	HfSiON/SiO2 nMOSFET에 발생하는 Positive Bias Temperature Instability 열화의 전압 의존성 평가 Thesis(Doctor), 2015 김철규
2013-Nov	Saturation Effect for Vth Shift durng the Positive Bias Temperature Instability of HfSiON/SiO2 nMOSFET and Its Impact on Device Life time International Workshop on DIELETRIC THIN FILMS FOR FUTURE ELECTRON DEVICES, 2013-11-07 강봉구; 김철규
2011	Sn의 농도와 film의 두께가 ZTO TFTs의 전기적 구조적 특징에 미치는 영향 Thesis(Master), 2011 김철규
2012-Jul	The Effects of Films Thickness and Sn Concentrations on Solution Processed ZTO Thin Film Transistors Properties Thin Films Society, 2012-07-14 강봉구; 김철규

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