Conference
Cited 0 time in 
Cited 0 time in 
Cited 0 time in
Metadata Downloads
대용량 메모리의 이웃 패턴 감응 고장의 효율적 테스팅을 위한 메모리 구조
- Title
- 대용량 메모리의 이웃 패턴 감응 고장의 효율적 테스팅을 위한 메모리 구조
- Authors
- 홍성제
- Publisher
- 한국정보과학회
- Article Type
- Conference
- Citation
- 제31회 추계학술발표회
- Files in This Item:
- There are no files associated with this item.
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.
Communities & Collection
Related Researcher
- 홍성제HONG, SUNG JE
- Div of IT Convergence Enginrg