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Hot carrier 스트레스에 의한 LDD n-MOSFET의 열화 특성 파악 및 새로운 Idlin 열화모델 구현
- Title
- Hot carrier 스트레스에 의한 LDD n-MOSFET의 열화 특성 파악 및 새로운 Idlin 열화모델 구현
- Authors
- 강봉구
- Date Issued
- 2002-11-01
- Publisher
- 컴퓨터/반도체 소사이어티 추계학술논문대회
- Article Type
- Conference
- Citation
- 컴퓨터/반도체 소사이어티 추계학술논문대회, page. 395 - 398, 2002-11-01
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Related Researcher
- 강봉구KANG, BONG KOO
- Dept of Electrical Enginrg