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OASIS Repository@POSTECHLIBRARY
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Thesis
A study on Reliability in Amorphous-InGaZnO Thin Film Transistors for Display Application
Thesis(Doctor), 2018
이열형
Conference
Effect of Rising Edge in Dynamic Stress with Various Duty Ratio in Amorphous Ingazno Thin Film Transistor
The Electrochemical Society. 227th meeting, page. 1465 - 1465, 2015-05-27
김오현
;
이열형
;
석수정
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