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OASIS Repository@POSTECHLIBRARY
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Article
Easy calibration method of vision system for in-situ measurement of strain of thin films
SCIE
SCOPUS
TRANSACTIONS OF NONFERROUS METALS SOCIETY OF CHINA, vol. 19, page. 243 - 249, 2009-09
Park, JH
;
Kang, DJ
;
Shin, MS
;
Lim, SJ
;
Yu, SC
;
et al
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