Full metadata record
DC Field | Value | Language |
dc.contributor.author | 홍성제 | - |
dc.date.accessioned | 2018-06-22T03:04:10Z | - |
dc.date.available | 2018-06-22T03:04:10Z | - |
dc.date.created | 2009-03-27 | - |
dc.date.issued | 1994-11-19 | - |
dc.identifier.uri | https://oasis.postech.ac.kr/handle/2014.oak/86629 | - |
dc.publisher | 대한전자공학회 | - |
dc.relation.isPartOf | 대한전자공학회 추계종합학술대회 | - |
dc.relation.isPartOf | 대한전자공학회 추계종합학술대회 | - |
dc.title | 내장 전류계를 이용한 CMOS회로의 전류 테스팅 | - |
dc.type | Conference | - |
dc.type.rims | CONF | - |
dc.identifier.bibliographicCitation | 대한전자공학회 추계종합학술대회 | - |
dc.citation.conferencePlace | KO | - |
dc.citation.title | 대한전자공학회 추계종합학술대회 | - |
dc.contributor.affiliatedAuthor | 홍성제 | - |
dc.description.journalClass | 2 | - |
dc.description.journalClass | 2 | - |
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