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Article
Evaluation of Two Process Yields in Acceptance Sampling Plans
SCIE
SCOPUS
JOURNAL OF TESTING AND EVALUATION, vol. 46, no. 2, page. 756 - 763, 2018-03
Butt, K. A.
;
Aslam, M.
;
Wang, F. -K.
;
Lee, H.
;
Jun, C. -H.
1
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