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OASIS Repository@POSTECHLIBRARY
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Conference
Reliable Extraction of Series Resistance in Silicon Nanowire FETs Using Y-function Technique
IEEE Nanotechnology Materials and Devices Conference (NMDC2011), 2011-10-19
백록현
;
김예람
;
이상현
;
백창기
;
여경환
;
et al
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