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대용량 메모리의 이웃 패턴 감응 고장의 효율적 테스팅을 위한 메모리 구조

Title
대용량 메모리의 이웃 패턴 감응 고장의 효율적 테스팅을 위한 메모리 구조
Authors
홍성제
POSTECH Authors
홍성제
Publisher
한국정보과학회
URI
http://oasis.postech.ac.kr/handle/2014.oak/87473
Article Type
Conference
Citation
제31회 추계학술발표회
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